台日國際光譜與表面科學研習會致詞

首先歡迎各位來參加「台日國際光譜與表面科學研討會」（Taiwan-Japan International Workshop on Spectroscopy and Surface Science）；據了解日方代表多來自千葉大學先進整合研究所之奈米科學部門（Nanoscience Division of the Graduate School of Advanced Integration Science in Chiba University），而台灣講員以本校物理系教師為主幹，所以這次研習會主要為兩校系級教師的交流，尤其千葉大學部份教授與清華合作多年，如Professor Hisao Ishii與唐述中教授，合作長達十五年，且有優異成果，本次研習會無疑對雙方交流會有增進與增強的效果，非常實質與具有意義。

本人近年來研究方向集中在低維奈米材料的合成、鑑定與應用，除穿透式與掃瞄電子顯微鏡（TEM & SEM）以及其波長分散、能量分散光譜儀（WDS & EDS）附件外，掃瞄穿隧式電子顯微鏡（STM）與原子力顯微鏡（AFM）也是常用的工具，同時以往在從事半導體與金屬薄膜研究時，常用分析儀器也包括反射式高能量電子繞射儀（RHEED）、歐傑電子能譜儀（AES）以及二次離子質譜儀（SIMS），所以對光譜學以及表面科學並不陌生，而從研究經驗中，由於各種儀器有它的特點與限制，選擇適當檢視方法才能得到正確結果，例如約在二十年前，我領導的研究群先以原子分辨TEM（atomic resolution TEM，AR-TEM）觀察橫截面試片，發現在超高真空下，於室溫在原子級純淨（atomically clean）矽晶上沉積金屬薄膜，在介面會產生一層非晶質混合層，也就是有固態非晶質化的現象；由於之前在美國聲譽卓著的實驗室在頂尖期刊上一連串的報導用AES配合離子濺射方法（ion sputtering）認定在室溫沉積的金屬薄膜與矽晶介面不會有混合現象，最後輔以臨場RHEED（in situ RHEED），才得驗證，後來又由UHV STM得到進一步驗證，這項研究經驗讓我們學習到，在科學研究上要勇於挑戰權威，同時掌握適當分析方法格外重要。

另一方面，巧妙的利用不同儀器檢測，尤其是在不同領域交會點，常是研究更上層樓的徵兆，而有令人振奮的成果；舉例而言，最近我們與物理系的果尚志教授合作研究奈米雷射，在科學（Science）期刊中報導製成世界最小的雷射，關鍵之一是得以用分子束磊晶方法（Molecular Beam Epitaxy，MBE）製備原子層級平滑（atomically flat）的銀薄膜為電漿子共振腔（plasmonic resonance cavity），同時由球面像差校正（Cs-corrected）AR-TEM提供由MBE成長發光的核-殼（core-shell）In_xGa_1-xN-GaN結構的原子結構，包括核與殼尺寸以及In_xGa_1-xN成份資訊，在不同專長學者合作之下，得到優異的成果，是跨領域合作的範例。

最後我要特別一提的是，在清華步行距離之內的國家同步輻射中心（National Synchrotron Radiation Research Center，NSRRC）除於九月慶祝1.3 GeV台灣光源（Taiwan Light Source，TLS）出光二十周年外，新建的3 GeV台灣光子源（Taiwan Photon Source，TPS）預定在2014年底出光；這項光譜與表面科學分析利器的運作，無疑會提供清華與千葉大學更多更佳的合作機會，也希望雙方在未來能有更緊密的合作關係，在科學上共創佳績。